做材料科研的小伙伴，想必都对 TEM 图又爱又恨：拍出了好看的形貌图，却不知道怎么把模糊的晶格条纹变清晰？拿到了 dm3 源文件，却对着满屏的工具栏无从下手？想给论文配上标准的晶面标注，却连标尺标定都搞不清？
别慌，今天这篇，我们就把 TEM 图处理的三大核心步骤，手把手给你讲明白，看完就能上手，再也不用到处求人帮忙处理数据。
一、尺寸标定
标尺标定是TEM图所有长度测量（颗粒大小、晶面间距等）的基础，直接影响数据准确性，不可跳过。
实操步骤：
1. 打开文件：用Digital Micrograph（DM软件）打开文件，.dm3格式会自动识别标尺等信息，可直接跳过标定。
2. 手动标定（导出图专用）：jpg、tiff格式需手动操作：① 用放大镜放大标尺区域；② 按住Shift键，用画线工具沿标尺画等长线段（避开标尺线宽，避免倾斜误差）；③ 选中线段，点击Analysis - Calibrate，输入标尺实际长度（如5nm）和单位，点击OK即可。
标定完成后，图中所有长度测量均为真实物理尺寸，为后续分析奠定基础。
二、降噪处理
高分辨TEM图常因电子剂量、样品特性或拍摄噪声，导致晶格条纹模糊，可通过傅里叶变换（FFT）降噪，分离晶格信号与噪声。
实操步骤：
1. 框选处理区域：用矩形框选工具，按住Alt键框选正方形区域（FFT处理必要条件），优先选晶格条纹均匀、含10个以上条纹的区域。
2. 实时傅里叶变换：点击Process - Live FFT，弹出傅里叶频谱图，拖动左侧框找到信号最佳区域。
3. 掩码过滤噪声：用Mask工具框选频谱图中明亮的晶格信号斑点，过滤背景噪声。
4. 反傅里叶变换：依次点击Process - Apply Mask和Process - FFT - Inverse FFT，即可得到清晰的晶格图。
⚠️ 小提醒：降噪处理不要过度！如果你的样品里有位错、层错这类缺陷，不要把这些信号也过滤掉了，不然会丢失样品的真实结构信息。
三、晶面间距与晶面标定
晶面分析是TEM高分辨图的核心价值所在，通过晶面间距可确定样品物相与暴露晶面。
实操步骤：
1. 测量晶面间距：用Profile工具，在晶格图上画垂直于晶格条纹的直线，弹出强度分布窗口后，框选10个以上峰计算平均间距（减少误差），如10个峰总长度2.6nm，平均间距即为0.26nm。
2. 匹配晶面指数：借助XRD标准PDF卡片匹配：① 单位转换（1nm=10Å），将测得的nm值转为Å；② 找到卡片中与测得d值最接近的项，其对应晶面指数即为目标晶面（如2.6Å可对应TiO₂的(002)晶面）。
搞定了清晰的晶格条纹，接下来就是最核心的晶面分析了，这也是 TEM 高分辨图最有价值的部分 —— 通过晶面间距，我们可以确定样品的物相，还有暴露的晶面。
最后，你就可以把这些信息标注在图上，加上晶面间距和晶面指数，一张可以直接用在论文里的标准高分辨 TEM 图就做好了。
其实 TEM 图处理并没有想象中那么难，只要把这三个基础步骤搞清楚：先标定标尺保证数据准确，再用 FFT 降噪把模糊的条纹变清晰，最后测量晶面间距匹配晶面，新手也能快速上手。
当然，不同的样品可能会有不同的处理细节，比如多晶、非晶的处理会有区别，但核心的逻辑都是相通的。希望这篇教程，能帮到刚接触 TEM 的小伙伴，少走一点弯路。
