原子力显微镜（AFM）是纳米、高分子、生物材料领域的核心表征设备，可精准测试样品形貌、粗糙度、厚度等关键数据，是科研论文的重要数据支撑。不少科研人员常遇到成像模糊、数据失真、探针损坏、无法上机复测等问题，多数情况并非仪器故障，而是送检前样品制备、尺寸把控、包装运输等细节不到位。
钧研实验室结合多年检测经验，精简梳理AFM送检注意事项，帮助大家一次送检成功、高效获取精准数据，建议科研人收藏备用。
一、样品状态要求
AFM对样品状态要求严苛，洁净度、平整度、样品属性直接决定测试成败，具体规范如下：
1. 表面洁净度
样品表面需达到纳米级洁净，无灰尘、油污、无机盐及杂质颗粒，避免成像失真、数据偏差、探针污染损坏。可针对性清洁：有机杂质用乙醇、异丙醇超声清洗；无机盐残留用去离子水漂洗；高分子、软性样品可采用等离子体清洗，清洁后需完全干燥。
2. 表面平整度
常规形貌测试样品表面高度差需≤1μm，最优粗糙度10-200nm。表面起伏过大会导致成像失败、磨损探针。PFM、KPFM等功能性测试对平整度要求更高，需样品表面极致平整，保障电学、力学数据精准。
3. 样品基础属性
送检样品需无磁性、无粘性、无液态残留：磁性样品干扰仪器组件，粘性样品易粘连探针，潮湿样品禁止上机。同时需适配样品硬度：软质薄膜、生物样品易受压变形产生伪影，硬质样品易磨损探针，需提前匹配对应测试模式与探针。
二、样品尺寸与制样规范
样品尺寸不符、制样不规范是无法上机的主要原因，不同样品适配标准如下：
1. 块状、薄膜、片状样品
常规适配尺寸：长宽1-2cm、厚度≤7mm。长宽＜5mm的小样品需固定在专用基底上，长宽＞30mm样品超出设备量程无法测试。如需测试截面，需送检前自行制备平整截面，规避测试失效问题。
2. 粉末、纤维样品
禁止直接上机，需超声分散制备均匀悬浮液，滴涂于硅片、云母片、蓝宝石片等平整基底，烘干干燥至无团聚、无堆叠。粉末样品建议备样≥20mg，满足复测需求。
3. 基底固定要求
样品需牢固粘附在基底上，测试过程无晃动偏移。常规选用硅片、云母片、洁净玻璃片；软性生物、超薄薄膜样品可使用聚L-赖氨酸涂层基底，提升附着力，防止样品脱落位移。
三、包装运输要求
运输不当易造成样品静电干扰、划伤、污染，需严格遵循以下规范：
1. 高分子、无机薄膜等不导电样品，禁止普通自封袋包装，避免摩擦产生静电干扰扫描，优先使用专用样品胶盒、离心管固定存放；
2. 硬质片状样品单独分装、做好防护，防止表面划伤、落灰；
3. 所有样品清晰标注编号、材质、测试需求，避免样品混淆。
四、送样前期沟通
1. 提前明确测试项目（形貌、粗糙度、厚度、PFM、KPFM、相位图等），方便工作人员匹配探针、扫描模式与参数，保障数据有效；
2. 生物、易氧化、柔性等特殊样品提前报备，采用适配测试环境，保留样品原始微观结构；
3. 严禁潮湿、带磁、粘性、未预处理、尺寸超标的样品上机，避免测试失败、损坏仪器。
五、钧研实验室提供技术支持
AFM测试对制样、参数、操作细节要求极高，微小疏漏都会影响数据有效性，耽误实验与论文进度。为解决科研人员送检繁琐、制样不专业、数据偏差、反复复测等问题，钧研实验室提供一站式AFM测试技术支持服务。
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