场发射透射电子显微镜(TEM)

样品要求:

1. 使用电压200KV,如需其他电压,可与项目工程师沟通确认;

2. 粉体(>2mg)、液体(>1ml)可测试,薄膜或块状样品不能直接拍摄,需另行制样(如离子减薄、包埋切片、FIB等);

3. 样品的厚度不超过100nm,如果颗粒稍大一点,可做FIB减薄或其他方法至100nm以下(可先拍SEM判定颗粒大小);

4. 制样载网的选择:普通碳膜:适用拍摄低倍材料或生物样品;超薄:适用量子点、小颗粒等尺寸较小材料;微栅:适用500nm以上管状、棒状、纳米团聚物样品;钼网:适用于含Cu样品能谱采集;

5. 如果样品中含有U或其他放射性元素,下单前请务必联系我们;

6. 形貌一般提供15张图片左右;能谱默认提供一个位置数据;

7. 具体验磁说明可点击查看:透射电子显微镜样品验磁说明,磁性样品要求颗粒大小不超过200nm,且不接受自己制样。

注:请务必仔细检查您的样品,若发现以弱磁强磁充当非磁或者以强磁充当弱磁非磁,我们将可能无法安排您的实验,不承担以此造成的时间和样品损失;且须赔偿原订单金额的两倍费用,若造成设备损坏,维修费用须由您全部承担!

形貌表征

场发射透射电子显微镜(TEM)

仪器型号
FEI Tecnai F20, TF30,JEOL JEM 2100F,FEI Talos F200X等
完成周期
5 工作日
300元起
累计服务 17824+ 次