
样品要求:
1. 样品需平整,表面粗糙度小于300 μm;
2. 样品尺寸不超过50*50mm;
3. 尽量不测粉末,特殊需观察堆积粉末表面形貌时才考虑,粉末需要比较细腻,颗粒平均直径不超过30 μm,需要提前与项目工程师沟通,判断是否可测。
光谱类
电子材料光学分析系统-白光干涉仪
仪器型号
—
完成周期
7 工作日
¥450元起
累计服务 60+ 次

样品要求:
1. 样品需平整,表面粗糙度小于300 μm;
2. 样品尺寸不超过50*50mm;
3. 尽量不测粉末,特殊需观察堆积粉末表面形貌时才考虑,粉末需要比较细腻,颗粒平均直径不超过30 μm,需要提前与项目工程师沟通,判断是否可测。