电子材料光学分析系统-白光干涉仪

样品要求:

1. 样品需平整,表面粗糙度小于300 μm;

2. 样品尺寸不超过50*50mm;

3. 尽量不测粉末,特殊需观察堆积粉末表面形貌时才考虑,粉末需要比较细腻,颗粒平均直径不超过30 μm,需要提前与项目工程师沟通,判断是否可测。

光谱类

电子材料光学分析系统-白光干涉仪

仪器型号
完成周期
7 工作日
450元起
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