半导体参数分析仪

样品要求:

1、可接受的样品状态:薄膜、块体、电子器件等;

2、样品量和样品尺寸要求:电极尺寸不小于200μm×200μm;受光面尺寸:小于8mm×4mm。

电学类

半导体参数分析仪

仪器型号
完成周期
7 工作日
600元起
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