样品要求：

• 块状样品：1-3块（单块尺寸建议≤20mm×20mm×10mm，优先选择平整面作为测试面，适配EBSD探测器视野，便于晶体取向分析）​

• 薄膜/片状样品：3-5片（厚度0.1-3mm，尺寸建议≥10mm×10mm，无褶皱、无孔洞、无分层，测试面需平整光滑，避免影响电子束探测）​

• 金属/合金样品：1-2块（尺寸同块状样品，需保证样品为多晶体结构，无严重氧化、无裂纹，便于获取清晰的晶体取向数据）​

• 陶瓷/半导体样品：1-2块（尺寸同块状样品，需结构均匀，无脱粘、无崩边，测试面需经过抛光处理，减少表面粗糙度对测试的影响）

• 形状规整，长：<10mm，宽<10mm，厚度<5mm。（测试大了，需要切割）；

• 测试面需要平整、清洁、光滑无划痕，已抛光处理，无残余应力，导电性良好；

• 其他特殊需求提前沟通，（如陶瓷导电性不好的，需要喷碳后做）。