一、AFM介绍

原子力显微镜（Atomic Force Microscope，简称AFM）是一种用于研究表面形貌和表面特性的高分辨率扫描探针显微镜。它利用微悬臂上的针尖与样品表面之间的相互作用力来获取表面形貌和表面特性信息。AFM可以测试各种材料表面的形貌、粗糙度、弹性、硬度、化学反应等特性，广泛应用于纳米科学研究领域。

二、测试项目

1. 表面形貌：AFM可以获取表面形貌的高分辨率图像，包括表面起伏、沟壑、颗粒大小等特征。应用在研究表面微观结构、表面处理效果以及材料性能等方面。

2. 表面粗糙度：AFM可以测量表面粗糙度，即表面微小起伏和波纹的幅度和频率。应用在研究表面加工质量、材料表面处理效果以及摩擦学等领域。

3. 弹性：AFM可以测量样品的弹性，包括弹性模量和泊松比等参数。应用在研究材料力学性能、材料内部结构以及纳米尺度下的力学行为等方面。

4. 刚度：AFM可以测量样品的刚度，即针尖在样品表面划过时所受到的阻力。应用在研究材料刚度分布、材料内部结构以及纳米尺度下的力学行为等方面。

三、样品要求

1. 样品状态：可为粉末、块体、薄膜样品；

2. 粉末样品：常规测试项目样品起伏一般不超过5微米，特殊测试项目样品起伏一般不超过1um，提供20mg，液体不少于1ml，尺寸过大请提前咨询技术工程师；

3. 粉末样品请务必备注好制样条件，包括分散液，超声时间及配制浓度；

4.对于不导电的样品，如塑料，聚合材料，高分子材料之类，建议使用吸附胶盒、离心管等装样，请不要直接用自封袋装，如需使用自封袋请将样品与包装固定牢固，避免运输过程中摩擦产生静电，导致样品难测或无法测试 ；

5.薄膜或块状样品尺寸要求：长宽0.5-3cm之间，厚度0.1-1cm之间，表面粗糙度不超过5um，一定要标明测试面！块状样品需要固定好，避免在寄送过程产生晃动或摩擦影响测试结果！

6. 测试PFM、KPFM、C-AFM、PeakForce TUNA的材料需要将样品制备在导电基底上，基底大小符合块状样品的尺寸要求，KPFM、C-AFM、PeakForce TUNA的样品需要导电或至少为半导体；

7. PFM，KPFM测试需要样品表面十分平整，样品粗糙度最好在10-200nm之间，粉末样品测试很难测到较好结果。