
样品要求:
1、可接受的样品状态:薄膜、块体、电子器件等;
2、样品量和样品尺寸要求:电极尺寸不小于200μm×200μm;受光面尺寸:小于8mm×4mm。
电学类
半导体参数分析仪
仪器型号
美国Keysight B1505A、美国Tektronix Keithley 4200A-SCS
完成周期
5 工作日
¥600元起
累计服务 159+ 次

样品要求:
1、可接受的样品状态:薄膜、块体、电子器件等;
2、样品量和样品尺寸要求:电极尺寸不小于200μm×200μm;受光面尺寸:小于8mm×4mm。